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課程背景：

電子產(chǎn)品在不斷與失效作斗爭(zhēng)中不斷提高可靠性，失效分析是與產(chǎn)品失效作斗爭(zhēng)的最有效的工具。失效分析是故障歸零的關(guān)鍵技術(shù)：產(chǎn)品故障歸零技術(shù)上要求“定位準(zhǔn)確，機(jī)理清楚，故障再現(xiàn)，措施有效，舉一反三”，顯然，失效分析實(shí)現(xiàn)“機(jī)理清楚”，只有在失效機(jī)理的指引下才能確定正確的“故障再現(xiàn)”的應(yīng)力，只有在機(jī)理的指引下，才能確定引起故障的原因，對(duì)故障實(shí)施改進(jìn)、控制才能做到“措施有效”。

培訓(xùn)受眾:

從事電子元器件（包括集成電路）失效分析的工程師，質(zhì)量、可靠性工程師和管理人員具體事宜聯(lián)絡(luò)付老師(壹伍捌壹捌陸捌叁肆壹玖)。

課程收益:

“電子元器件失效分析技術(shù)與經(jīng)典案例”分為兩講，第一講是“電子元器件失效分析技術(shù)”，這一講中首先簡(jiǎn)單講述電子產(chǎn)品（包括各種元器件、集成電路、組件等）失效分析的主要術(shù)語(yǔ)，失效分析的程序和方法。重點(diǎn)通過(guò)具體的分析案例，剖析失效分析的程序和方法各個(gè)節(jié)點(diǎn)的分析要點(diǎn)和分析技巧。通過(guò)學(xué)習(xí)讓學(xué)員掌握怎樣開(kāi)展失效分析工作，采用什么分析儀器設(shè)備提取失效樣品的失效證據(jù)，怎樣研判失效證據(jù)與樣品失效的關(guān)系，從而診斷失效樣品的失效機(jī)理；掌握分析設(shè)備的應(yīng)用技巧和失效分析中的關(guān)鍵問(wèn)題。第二講是“失效分析經(jīng)典案例”，通過(guò)典型的失效分析案例的剖析，加深失效分析程序和方法的掌握，通過(guò)典型的失效分析案例講述各種元器件、各種失效機(jī)理的分析、診斷方法，并在失效分析的案例中培訓(xùn)學(xué)員怎樣考慮問(wèn)題、怎樣采用合適的分析手段（分析儀器、設(shè)備）提取證據(jù)，怎樣識(shí)別各種失效機(jī)理的表現(xiàn)特征，怎樣對(duì)獲得的各方面的信息、證據(jù)進(jìn)行綜合分析以達(dá)到對(duì)失效產(chǎn)品進(jìn)行準(zhǔn)確診斷的目的具體事宜聯(lián)絡(luò)付老師(壹伍捌壹捌陸捌叁肆壹玖)。

培訓(xùn)頒發(fā)證書(shū):

證 書(shū)：由中國(guó)電子專用設(shè)備協(xié)會(huì)頒發(fā)培訓(xùn)證書(shū)

課程大綱:

第一講：電子元器件失效分析程序和方法

（1） 失效分析的作用

1. 從可靠性發(fā)展過(guò)程的三個(gè)階段（事后檢測(cè)、事前預(yù)防、事前控制）見(jiàn)證失效分析的作用

2. 從失效分析案例中見(jiàn)證失效分析在產(chǎn)品可靠性中的作用。

3. 從質(zhì)量可靠性活動(dòng)中見(jiàn)證失效分析的作用

（2） 失效分析程序和方法

1. 失效分析基本概念

2. 失效分析基本步驟

信息分析

失效模式確認(rèn)

可能的失效機(jī)理

尋找失效證據(jù)

必要的驗(yàn)證和綜合分析。

（3） 失效分析基本流程

信息分析

外觀檢查

非破壞性分析

破壞性分析

綜合分析

編寫報(bào)告

失效分析技術(shù)路線

（4） 操作原則和知識(shí)需求

（5） 失效分析技術(shù)（分析設(shè)備）

1）制樣技術(shù)

2）形貌分析技術(shù)

3）成分分析技術(shù)

4）物理（熱、力、聲、光）分析技術(shù)

5）應(yīng)力試驗(yàn)分析技術(shù)

第二講：失效分析經(jīng)典案例

（1） 失效分析全過(guò)程案例

（2）針對(duì)失效機(jī)理和失效原因的經(jīng)典案例

1. 材料缺陷失效分析案例

2. 結(jié)構(gòu)缺陷失效分析案例

3. 制造工藝缺陷失效分析案例

4. 靜電損傷失效分析案例

5. 電浪涌失效分析案例

6. 機(jī)械應(yīng)力失效分析案例

7. 熱變應(yīng)力失效分析案例

8. 污染腐蝕失效分析案例

9. 使用不當(dāng)失效分析案例

10. 元器件固有機(jī)理失效分析案例。

上述案例包含元器件的各個(gè)門類，包括電阻器、電容器、電感器、二極管、三極管、集成電路、組件、板件（PCBA）。

◆培訓(xùn)時(shí)間：2012年5月25日至26日（深圳）/2012年5月18日至19日（蘇州）

◆培訓(xùn)費(fèi)用： ￥2500元/2天/人

李老師

高級(jí)工程師，1984年畢業(yè)于成都電訊工程學(xué)院（現(xiàn)中國(guó)電子科技大學(xué)）半導(dǎo)體器件專業(yè)，畢業(yè)后一直在中國(guó)賽寶實(shí)驗(yàn)室（信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所）可靠性研究分析中心從電子產(chǎn)品可靠性分析、研究工作。長(zhǎng)期從事對(duì)電子企業(yè)的可靠性增長(zhǎng)和產(chǎn)品失效分析工作，具有豐富的失效分析經(jīng)驗(yàn)，并積累了大量的經(jīng)典分析案例，是中國(guó)賽寶實(shí)驗(yàn)室（信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所）可靠性研究分析中心資深的失效分析專家。

主要培訓(xùn)的企業(yè)有：美的失效分析實(shí)驗(yàn)室建設(shè)技術(shù)咨詢和失效分析技術(shù)培訓(xùn)，海爾檢測(cè)中心的技術(shù)咨詢和失效分析技術(shù)培訓(xùn)，廣東核電進(jìn)行電子元器件老化技術(shù)，繼電器老化管理，板件老化管理培訓(xùn)，中興通訊的失效分析技術(shù)培訓(xùn)，富士康失效分析技術(shù)現(xiàn)場(chǎng)研討，中國(guó)賽寶實(shí)驗(yàn)室元器件可靠性研究分析中培訓(xùn)學(xué)員的實(shí)習(xí)指導(dǎo)，以及失效分析專題公開(kāi)培訓(xùn)。先后參與《失效分析經(jīng)典案例100例》和《電子元器件失效技術(shù)》的編寫。

中國(guó)賽寶實(shí)驗(yàn)室（信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所）是可靠性專業(yè)的綜合研究所，屬下的可靠性研究分析中心專門從可靠性物理的研究和分析工作，面向軍、民企業(yè)提供可靠性支撐技術(shù)，直接的服務(wù)主要是包括失效分析的可靠性技術(shù)。可靠性物理及其應(yīng)用技術(shù)國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室的依托實(shí)體就是信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所可靠性研究分析中心。

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